Contourmeetapparaat tweedehands te koop (6)

Toestand: goed (gebruikt), Bouwjaar: 2018, Functionaliteit: volledig functioneel, MITUTOYO Contracer CV-2100M4 contourmeetinstrument Meetbereik horizontaal X = 100 mm Meetbereik verticaal Z = 50 mm Verplaatsingsbereik kolom Z2 = 350 mm Hellingshoek +/- 45° Afmetingen (B x D x H) 745 mm x 450 mm x 885 mm Totaal gewicht ca. 150 kg Incl. PC-systeem Incl. kruistafel 218-001 Incl. draaibare bankschroef 2028-003 Meer gegevens vindt u in de brochure (PDF) Djdpfszhuigjx Ah Nouw

Toestand: gebruikt, Optacom VC-10 Universeel Meetsysteem, Ruwheidsmeter, Contourmeter Het apparaat wordt verkocht zonder pc en software (alleen hardware). Resolutie in X- en Z-as: 0,002 µm Resolutie bij de tasterpunt: 0,003 µm VC-10 meetbereik horizontaal/verticaal (X-as/Z-as): 225 mm Meetsysteem: optisch, incrementeel en contactloos op alle assen (X, Z, T) Nauwkeurigheid: +/- (0,5 + L/100) µm Maximale meetkracht: 10 - 150 mN Meetsnelheid: 0,1 – 2 mm/sec (automatisch geoptimaliseerd) Radius van de tasterpunt: 0,002 – 1 mm Meetbare hellingen: 78° omhoog; 87° omlaag VC-10 afmetingen (B x D x H): 950 x 380 x 725 mm VC-10 gewicht (ca.): 150 kg Beschrijving is overgenomen. U bent van harte welkom om het apparaat op locatie te inspecteren. Wij kunnen desgewenst een voordelige transportservice voor u organiseren! U ontvangt een correcte factuur. Voor buitenlandse klanten kan ook een nettofactuur worden opgesteld, mits een geldig btw-nummer aanwezig is. Tussentijdse verkoop voorbehouden. Dusdpfxoybbd Se Ah New Bezoek onze shop en bekijk ook onze andere aanbiedingen. Vermelde bedrijfsnamen en handelsmerken zijn eigendom van hun respectievelijke houders en dienen uitsluitend ter identificatie en beschrijving van de producten. Afwijkingen in technische gegevens en vergissingen in de artikelomschrijving zijn mogelijk en voorbehouden.

Toestand: goed (gebruikt), Contourmeetapparaat, contourmeter, contourograph, ruwheidsmeetapparaat, ruwheidsmeting, rondheidsmeting, ruwheidstaster - Fabrikant: Hommel, taster voor ruwheidsmeetapparaat - Meetnaald: Type P2FE 30 / P2F E 100 - Losse componenten: zie foto's Dodpfjk Hdr Tjx Ah Nouw - Afmetingen kist: 235/105/H30 mm - Gewicht: 0,4 kg

Toestand: gebruikt, Contourmeetapparaat, contourmeter, conturograaf, conturograaf, ruwheidsmeetapparaat, ruwheidsmeting, rondheidsmeting, ruwheidssonde -fabrikant: Hommel, Sondehouder voor ruwheidsmeetinstrument -Type: KVA Type P2/115 -tasterbeweging: s= 12 mm -afmeting doos: 345/130/H85 mm -gewicht: 1,7 kg Dodpfx Ajk H R Huoh Nsuw

Toestand: nieuw, Functionaliteit: volledig functioneel, garantieduur: 24 maanden, ingangsspanning: 240 V, meetbereik X-as: 120 mm, meetbereik Z-as: 30 mm, totaalgewicht: 70 kg, werkstukgewicht (max.): 100 kg, aanvoer lengte X-as: 120 mm, Uitrusting: Typeplaat beschikbaar, -Leasingmogelijkheid beschikbaar!!!- ConturoMatic CV120 contourmeetapparaat "gewoon contouren meten" -Proefstukken voor gratis metingen kunnen vrijblijvend worden toegestuurd, online DEMO op afspraak mogelijk. Dujdpfx Aeq Nzd Nsh Now Informeer ook naar onze leasingmogelijkheden, wij brengen u graag in contact met onze partner. ✅ Tot 30% degressieve afschrijving op roerende activa* ✅ Geldig voor investeringen vanaf juli 2025* ✅ T&S-producten zijn volledig subsidiabel* Contourmeetsysteem met voedingseenheid en gemotoriseerde Z-kolom Leveringsomvang: - CV120 motorische voedingseenheid met precisiegeleding - Externe besturings- en regeleenheid - Gemotoriseerde Z-kolom - Desktop PC evaluatiecomputer W11/64 Bit - 24" TFT monitor - ConturoMatic evaluatiesoftware; gebruikershandleiding - Kabelset - CM software-updates GRATIS!!! Technische gegevens CV120: Voedingseenheid (X/Z meetas) - Z-meetbereik: 30mm - X-meetbereik: 120mm - Meetsnelheid: 0,1-1,75 mm/s - Hellingsverstelling: +/-15° - Automatische opheffunctie meetarm Z-kolom - Positioneringsbereik: 320mm, gemotoriseerd Nauwkeurigheid: X-as +/-(1,2µm+2Lx/25)µm* [L=mm] Z-as +/-(1,8µm+2Lz/25)µm* [L=mm] Let op: Voor aanpassing van onze CV120 aan de gevraagde meettaken en voor systeemuitbreiding is optioneel divers toebehoren beschikbaar, zoals verschillende meetarmen, universele spanmiddelen of klantspecifieke productopnames. * volgens specificatie T&S/CV120 -Technische wijzigingen voorbehouden- Goederentariefnummer: 90318020 -2 jaar garantie- Foto’s tonen speciale accessoires welke niet standaard bij de levering zijn inbegrepen. *Om juridische redenen mogen wij op dit vlak geen juridisch of fiscaal advies geven. Bovenstaande opmerkingen zijn dan ook niet als advies bedoeld. Neem in geval van twijfel contact op met uw bevoegde contactpersoon (afdeling of belastingadviseur).

Toestand: zo goed als nieuw (tentoonstellingsmachine), Bouwjaar: 2024, bedrijfsturen: 15 h, Precies profielmeetinstrument | Zeer goede staat | Direct inzetbaar Te koop aangeboden: een Chotest SJ-5760P, een hoogprecies contourmeetapparaat voor geometrische profielanalyse binnen kwaliteitsmanagement, gereedschapsbouw, machinebouw en onderzoek. Het apparaat levert uiterst nauwkeurige metingen met veel bewegingsvrijheid dankzij de stabiele granieten basis. ⸻ Staat • Gebruikt, technisch gecontroleerd • Volledig functioneel • Zeer goed onderhouden staat ⸻ Technische hoogtepunten – Chotest SJ-5760P Verplaatsingsbereiken • X-as: 0–200 mm • Z-as: 0–450 mm • Afmetingen apparaat: 800 × 450 × 1100 mm • Gewicht: 220 kg ⸻ Profielmeting (SJ-5760P) • Meetbereik Z1: ±25 mm • Resolutie: 0,001 µm • Meetrichting: Top / Down • Meetsnelheid: 0,05–5 mm/s • Positioneersnelheid: X/Z tot 20 mm/s • Meetkracht: 10–150 mN, instelbaar Dedpfxsx Db Ste Ah Nouw • Leidingsafwijking: ≤1 µm / 200 mm Nauwkeurigheid • X-weergavefout: ±(0,5 + 0,015L) µm • Z1-weergavefout: ±(0,5 + 0,05H) µm • Afstand: ±(0,8 + 0,02L) µm • Straal: ≤(1 + R/15) µm • Hoek: ≤±45’’ ⸻ Bijzonderheden van het apparaat • Ideaal voor nauwkeurige contour- en profielmetingen • Uiterst hoge verticale resolutie (0,001 µm) • Zeer stabiele granieten basis voor trillingsarm meten • Grote verplaatsingswegen voor diverse componentgeometrieën • Gebruiksvriendelijke en betrouwbare meettechniek • Geschikt voor micrometer-nauwkeurige vormmeting in laboratorium en productie